探知未來
原子(zǐ)力顯微鏡(AFM)是在樣品表面用微小的(de)探針進行掃描,通過高(gāo)倍率觀察三維形貌和(hé)局部物理(lǐ)特性的(de)顯微鏡總稱。SPM-9700HT更是性能高(gāo)、速度快、操作簡單的(de)新一(yī)代掃描探針顯微鏡。
HT掃描器 高(gāo)速反饋 高(gāo)速掃描
新開發的(de)可(kě)快速響應的(de)HT掃描器加之軟件與控制系統設計的(de)優化,成功實現掃描速度比傳統設備快5倍以上。
探針專家 便捷操作 輕松換探針
獨具匠心的(de)探針更換夾具,讓小心翼翼的(de)探針更換操作變得簡捷輕松
頭部滑動結構 高(gāo)穩定性 高(gāo)速分析處理(lǐ)
樣品交換時也可(kě)保持激光穩定照射懸臂。照射穩定性優異,分析時間也大幅度縮短(duǎn)
鼠标操作即可(kě)表現豐富的(de)3D圖像顯示
可(kě)從不同角度放大拉伸圖像進行确認。鼠标操作簡單,更可(kě)進行3D斷面形狀分析。
從觀察到分析實現無拘無束的(de)可(kě)操作性
按照操作指南指導操作順序,使用導航功能直接鎖定觀察位置,實現了SPM的(de)快速簡便的(de)觀察
滿足所有要求的(de)功能和(hé)擴展性
具備豐富的(de)測定模式和(hé)優異的(de)擴展性,可(kě)對不同硬度、不同導電性能等各式樣品進行觀察分析。